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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間:2025-05-23 瀏覽量:
隨著電子產(chǎn)品小型化、高密度化的發(fā)展,BGA(球柵陣列封裝)因其高引腳密度和優(yōu)良電性能被廣泛應(yīng)用。然而,BGA焊點(diǎn)隱藏在封裝底部,焊接缺陷(如虛焊、空洞、裂紋)難以肉眼識別,直接影響產(chǎn)品壽命和可靠性。
江蘇粵科檢測作為專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu),配備金相顯微鏡、掃描電鏡(SEM)、X-RAY檢測儀等尖端設(shè)備,提供從缺陷定位到失效機(jī)理分析的全流程BGA焊接可靠性評價(jià)服務(wù),覆蓋汽車電子、消費(fèi)電子、工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域,助力企業(yè)提升產(chǎn)品良率和市場競爭力。
1. 預(yù)防批量失效風(fēng)險(xiǎn):BGA焊接缺陷可能在量產(chǎn)階段引發(fā)大規(guī)模失效,通過可靠性評價(jià)可提前發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)成型不良、IMC層異常等問題,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
2. 滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):如IPC-A-610對焊點(diǎn)光滑度、空洞率的規(guī)范,以及GSO IEC 61191-6對BGA焊點(diǎn)空洞的量化評估要求。
3. 延長產(chǎn)品壽命:通過冷熱沖擊、跌落試驗(yàn)?zāi)M極端環(huán)境,驗(yàn)證焊點(diǎn)抗疲勞性能,為產(chǎn)品壽命預(yù)測提供數(shù)據(jù)支撐。
4. 降低維修成本:非破壞性檢測技術(shù)(如X-RAY、染色試驗(yàn))可快速定位缺陷,減少返修損耗。
針對不同失效模式,優(yōu)科檢測采用多維度分析方法,確保檢測結(jié)果精準(zhǔn)可靠:
1. 外觀與X-RAY分析
- 外觀檢查:通過高倍顯微鏡觀察焊點(diǎn)外觀一致性,初步判斷偏移、橋接等缺陷。
- X-RAY檢測:利用2D/3D斷層掃描技術(shù),精準(zhǔn)識別焊點(diǎn)內(nèi)部空洞、裂紋,符合GSO IEC 61191-6對空洞尺寸(≥10μm)的量化標(biāo)準(zhǔn)。
2. 染色試驗(yàn)(紅墨水測試)
通過滲透染色劑,直觀顯示焊點(diǎn)開裂位置和范圍,尤其適用于微裂紋和虛焊分析。
3. 斷面金相與SEM分析
- 切片分析:對焊點(diǎn)進(jìn)行研磨、拋光,觀察IMC層(金屬間化合物)厚度及結(jié)構(gòu),評估焊接強(qiáng)度。
- SEM/EDS聯(lián)用:掃描電鏡結(jié)合能譜分析,解析焊點(diǎn)成分偏析、異物污染等微觀缺陷。
4. 環(huán)境可靠性測試
- 冷熱沖擊試驗(yàn):按GJB 150.5標(biāo)準(zhǔn),在-65℃~150℃間快速溫變(速率達(dá)5℃/min),模擬極端氣候?qū)更c(diǎn)的熱應(yīng)力損傷。
- 跌落與振動(dòng)測試:驗(yàn)證產(chǎn)品在運(yùn)輸或使用中的機(jī)械沖擊耐受性。
5. 動(dòng)態(tài)電阻監(jiān)測(菊花鏈法)
通過敏感焊點(diǎn)構(gòu)建菊花鏈電路,實(shí)時(shí)監(jiān)測電阻變化,精準(zhǔn)定位疲勞失效點(diǎn)。
1. 需求溝通:提供產(chǎn)品信息(如封裝類型、應(yīng)用場景),明確測試目標(biāo)(如空洞率、抗沖擊性能)。
2. 方案定制:結(jié)合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(如IPC、IEC)和企業(yè)需求,制定檢測項(xiàng)目組合(如X-RAY+冷熱沖擊+SEM)。
3. 樣品提交:寄送待測樣品(建議提供3~5件),確保包裝完整避免二次損傷。
4. 檢測執(zhí)行:實(shí)驗(yàn)室按流程完成測試,7~10個(gè)工作日內(nèi)提供原始數(shù)據(jù)及初步分析。
5. 報(bào)告生成:出具CNAS/CMA測試報(bào)告,包含缺陷定位圖、失效機(jī)理分析及改進(jìn)建議。
汽車發(fā)動(dòng)機(jī)凈功率測試服務(wù) | GB/T17692標(biāo)準(zhǔn)檢測機(jī)構(gòu)
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