隨著電子產(chǎn)品日益復(fù)雜，功率器件在高溫、高頻和高功率密度的環(huán)境下工作，可靠性評估變得至關(guān)重要。江蘇粵科檢測作為專業(yè)的第三方電子元器件檢測機(jī)構(gòu)，可提供的功率器件IOL間歇壽命試驗檢測服務(wù)，能夠準(zhǔn)確模擬功率器件在實際應(yīng)用中的工作環(huán)境，幫助評估其長期可靠性和耐用性。

IOL間歇壽命試驗概述

IOL間歇壽命測試是一種功率循環(huán)測試，主要模擬器件在開啟（加電）和關(guān)閉（去電）過程中產(chǎn)生的熱應(yīng)力，以評估其在實際使用中可能遇到的失效模式。測試對象置于常溫環(huán)境下（Ta=25℃），通過通入電流使其結(jié)溫（Tj）升高至≥100℃，然后自然冷卻至環(huán)境溫度，再次加電升溫。這個循環(huán)反復(fù)進(jìn)行，旨在發(fā)現(xiàn)由于熱疲勞導(dǎo)致的器件內(nèi)部缺陷，如焊接面斷裂、材料界面分層等。

IOL測試目的

IOL測試的核心目標(biāo)是通過模擬“現(xiàn)實世界”中的開關(guān)操作模式，評估芯片及其封裝組件的熱疲勞程度，確保其在長期使用中的可靠性。具體而言，該測試能夠揭示以下幾種失效形式：

- 綁定線與鋁層焊接面斷裂

- 芯片表面與樹脂材料的界面分層

- 綁定線與樹脂材料的界面分層

對于材質(zhì)多樣、接觸面復(fù)雜的功率模塊，該測試尤為重要。

設(shè)備能力

江蘇粵科檢測的IOL間歇壽命試驗設(shè)備具備以下能力：

- 恒流電子負(fù)載IF檢測范圍：0.10A~20.00A，檢測精度為1%±0.01A

- 結(jié)溫測試電壓Vm檢測范圍：0.1~3.000V，檢測精度為±0.5%±0.001V

- 結(jié)溫測試電流Im檢測范圍：2.0mA~100mA，檢測精度為±1%±0.3mA

適用對象與測試標(biāo)準(zhǔn)

該測試適用于多種功率器件，包括Diode（二極管）、BJT（雙極性晶體管）、MOSFET、IGBT和GaN HEMT等。測試符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

- MIL-STD-883D

- MIL-STD-750

- GJB548

- AECQ101

江蘇粵科檢測的IOL間歇壽命試驗為電子元器件制造商、供應(yīng)商及研究機(jī)構(gòu)提供了一個強(qiáng)有力的工具，用于深入了解功率器件在高應(yīng)力環(huán)境下的可靠性。這不僅有助于優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計，還能確保產(chǎn)品在實際應(yīng)用中具備更長的使用壽命和更高的性能可靠性。

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