半導(dǎo)體分立器件老煉檢測機構(gòu)

元器件器件老煉試驗（Burn-in test），是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時間內(nèi)對元器件連續(xù)施加一定的電應(yīng)力，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方元器件二次篩選機構(gòu)，實驗室配備分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)，可提供半導(dǎo)體分立器件老煉檢測服務(wù)，并可出具權(quán)威認可的第三方檢測報告。

半導(dǎo)體分立器件老煉檢測依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GJB128B-2021 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》

半導(dǎo)體分立器件老煉方法

1. 靜態(tài)功率老煉

靜態(tài)功率老煉時，應(yīng)使半導(dǎo)體的PN結(jié)處于正偏導(dǎo)通的狀態(tài)，器件老煉所需要的應(yīng)力，是由器件本身所消耗的功率轉(zhuǎn)換而來的。在老煉過程中，由于受到電、熱的綜合作用，器件內(nèi)部的物理、化學(xué)反應(yīng)被加快，潛在失效點提前暴露，達到篩選目的。

靜態(tài)功率老煉可分為常溫靜態(tài)功率老煉和高溫靜態(tài)功率老煉，兩者的區(qū)別僅在于后者在較高溫度下進行，而高溫環(huán)境下集成電路的結(jié)溫可以達到較高的水準(zhǔn)，能達到更好的老煉效果。

2. 高溫反偏老煉

在高溫反偏老煉中，器件的PN結(jié)被同時加上高溫環(huán)境應(yīng)力和反向偏壓電應(yīng)力，器件內(nèi)部無電流或僅有微小的電流通過，幾乎不消耗功率。這種老煉方法對剔除具有表面效應(yīng)缺陷的早期失效器件特別有效，因而在一些反向應(yīng)用的半導(dǎo)體器件老煉中得到廣泛的應(yīng)用。

半導(dǎo)體分立器件老煉試驗注意事項

1. 施加電應(yīng)力時應(yīng)適當(dāng)，可以等于或稍高于額定條件，但應(yīng)注意高于額定條件不能引入新的失效機理。

2. 經(jīng)過高溫老煉試驗后要求殼溫冷卻到低于35℃時才允許給器件斷電。由于在高溫?zé)o電場作用下，可動離子能作無規(guī)則運動，使得器件已失效的性能恢復(fù)正常，從而可能會掩蓋其曾經(jīng)失效的現(xiàn)象。

3. 老煉試驗后的測試一般要求在試驗結(jié)束后96h內(nèi)完成。

我們的優(yōu)勢

1. 專家團隊

可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。

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