第三方芯片篩選測試機(jī)構(gòu)

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方芯片篩選測試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備IC集成電路GJB篩選檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供芯片二次篩選、失效分析（FA）、GJB150環(huán)境可靠性試驗(yàn)等可靠性驗(yàn)證服務(wù)。

芯片篩選測試產(chǎn)品類別

1. 單片集成電路；

2. 混合集成電路（含MCM）。

芯片篩選測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GJB 597A-1996 《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》

GJB 2438A-2002 《混合集成電路通用規(guī)范》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

芯片篩選測試項(xiàng)目

單片集成電路篩選測試項(xiàng)目

1. 晶圓批驗(yàn)收；

2. 非破壞性鍵合拉力；

3. 內(nèi)部目檢；

4. 溫度循環(huán)；

5. 恒定加速度；

6. PIND；

7. X射線照相；

8. 編序列號；

9. 初始電參數(shù)測試；

10. 老煉；

11. 終點(diǎn)電參數(shù)測試；

12. 計(jì)算Δ值和PD；

13. PDA；

14. 密封試驗(yàn)（細(xì)檢漏、粗檢漏）；

15. 外部目檢。

混合集成電路篩選測試項(xiàng)目

1. 密封前老煉；

2. 非破壞鍵合拉力；

3. 內(nèi)部目檢；

4. 溫度循環(huán)或熱沖擊；

5. 機(jī)械沖擊或恒定加速度；

6. PIND；

7. 初始電參數(shù)測試；

8. 老煉；

9. 中間電參數(shù)測試；

10. 終點(diǎn)電參數(shù)測試；

11. 計(jì)算Δ值和 PD；

12. PDA；

13. 密封試驗(yàn)（細(xì)檢漏、粗檢漏）；

14. X射線照相；

15. 外部目檢。

我們的優(yōu)勢

1. 專家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機(jī)械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級檢測體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機(jī)構(gòu)。

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