國內(nèi)元器件篩選公司

江蘇粵科檢測是位于蘇州的國內(nèi)元器件篩選公司，實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件GJB篩選檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供集成電路、分立器件以及電阻電容電感元件等各類電子元器件二次篩選服務(wù)。

元器件篩選的必要性

在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動，最終的成品不可能全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。在每一批成品中，總有一部分產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，這些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，在一定的應(yīng)力條件下表現(xiàn)為早期失效。具有早期失效的元器件的平均壽命比正常產(chǎn)品要短得多。

電子設(shè)備能否可靠地工作基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機(jī)、設(shè)備，就會使得整機(jī)、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能滿足要求，而且還要付出極大的代價來維修。

因此，應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前，就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除，為此就要對元器件進(jìn)行篩選。根據(jù)國內(nèi)外的篩選工作經(jīng)驗(yàn)，通過有效的篩選可以使元器件的總使用失效率下降1 - 2個數(shù)量級，因此不管是軍用產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。

我司可開展以下標(biāo)準(zhǔn)元器件二次篩選服務(wù)

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級的薄膜固定電阻器總規(guī)范》

GJB 2828-1997 《功率型線繞固定電阻器總規(guī)范》

GJB 3015-1997 《有可靠性指標(biāo)的非線繞預(yù)調(diào)電位器總規(guī)范》

GJB 920A-2002 《膜固定電阻網(wǎng)絡(luò),膜固定電阻和陶瓷電容器的阻容網(wǎng)絡(luò)通用規(guī)范》

GJB 1432B-2009 《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》

GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》

GJB 191B-2009 《含宇航級云母固定電容器通用規(guī)范》

GJB 63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》

GJB 2283A-2014 《片式固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)》

GJB 733B-2015 《有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范》

GJB 603A-2011 《有失效率等級的鋁電解電容器通用規(guī)范》

GJB1433-1992 《瓷介微調(diào)可變電容器總規(guī)范》

GJB 1214A-2009 《含宇航級金屬化塑料膜介質(zhì)密封固定電容器通用規(guī)范》

GJB 601B-2018 《熱敏電阻器通用規(guī)范》

GJB1782A-2015 《壓敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 264A-2011 《機(jī)械濾波器通用規(guī)范》

GJB 1511A-2012 《壓電陶瓷濾波器總規(guī)范》

GJB 2600A-2009 《聲表面波器件通用規(guī)范》

GJB1518A-2015 《射頻干擾濾波器總規(guī)范》

GJB1508-199 《石英晶體濾波器總規(guī)范》

GJB5850-2006 《小型熔斷器通用規(guī)范》

GJB734A-2002 《旋轉(zhuǎn)開關(guān)通用規(guī)范》

GJB1512A-2011 《按鈕開關(guān)通用規(guī)范》

GJB809B-2013 《微動開關(guān)通用規(guī)范》

GJB1217A-2009 《電連接器試驗(yàn)方法》

GJB2446A-2011 《外殼定位微矩形電連接器通用規(guī)范》

GJB1438A-2006 《印制電路連接器及其附件通用規(guī)范》

GJB681A-2002 《射頻同軸連接器通用規(guī)范》

GJB599B-2012 《耐環(huán)境快速分離高密度小圓形電連接器總規(guī)范》

GJB65B-1999 《有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

GJB1517A-2011 《恒溫繼電器通用規(guī)范》

GJB1513A-2009 《混合和固體延時繼電器通用規(guī)范》

GJB1461A-2017 《含可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB2449-1995 《塑封通用電磁繼電器總規(guī)范》

GJB2888A-2011 《有失效率等級的功率型電磁繼電器通用規(guī)范》

GJB1042A-2002 《電磁繼電器總規(guī)范》

GJB2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》

GJB1864A-2011 《射頻固定和可變片式電感器通用規(guī)范》

GJB5025-2003 《射頻固定和可變電感器通用規(guī)范》

GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》

GB/T17940-2000 第Ⅱ篇 《半導(dǎo)體器件 集成電路第 3 部分：模擬集成電路》

GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路》

SJ20646-1997 《混合集成電路 DC/DC 變換器測試方法》

GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇》

GB/T14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測試方法的基本原理》

GB/T14030-92 《半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理》

GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 7 部分：雙極型晶體管》

GB/T4586-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件 第 8 部分 場效應(yīng)晶體管》

GB/T4023-2015 《半導(dǎo)體分立器件第 2 部分：整流二極管》

GB/T6571-1995 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件分立器件第 3 部分：信號（包括開關(guān)）和調(diào)整二極管》

SJ/T2215-2015 《半導(dǎo)體光電耦合器測試方法》

GJB 675A-2002 《有和無可靠性指標(biāo)的模制射頻固定電感器通用規(guī)范》

SJ/T 10805-2018 《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測試方法》

GJB1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

元器件二次篩選流程

1. 收樣、標(biāo)識、入庫、入系統(tǒng)；

2. 目檢；

3. 電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試；

4. 老練篩選：高溫、反偏、功率等；

5. 環(huán)境應(yīng)力測試：振動、沖擊、離心加速度、溫度循環(huán)；

6. 密封性檢查：粗細(xì)檢漏、PIND；

7. 三溫電參數(shù)測試：按照產(chǎn)品規(guī)格書電性能或電氣性能測試

6. 打點(diǎn)、封裝、出庫。

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