元器件老煉試驗(yàn)是一種在工程中常用于剔除早期失效產(chǎn)品、提高系統(tǒng)可靠性的重要方法。通過在較長時(shí)間內(nèi)對元器件施加一定的電應(yīng)力，利用電-熱應(yīng)力的綜合作用，老煉試驗(yàn)可以加速元器件內(nèi)部各種物理和化學(xué)反應(yīng)的進(jìn)程，從而暴露出潛在缺陷，實(shí)現(xiàn)早期失效的篩選。

老煉試驗(yàn)的特點(diǎn)

老煉試驗(yàn)是一種加速導(dǎo)致早期失效機(jī)理發(fā)生的可靠性試驗(yàn)，通過促使元器件迅速進(jìn)入其可靠性使用周期的偶然失效期，來確保其質(zhì)量。老煉試驗(yàn)的主要特點(diǎn)包括：

1. 非破壞性試驗(yàn)：老煉試驗(yàn)通過誘發(fā)潛在缺陷導(dǎo)致失效，而不會引起新的失效機(jī)制或改變元器件的失效分布。

2. 全覆蓋測試：原則上，老煉試驗(yàn)應(yīng)對所有元器件進(jìn)行100%的測試，以確保篩選效果。

3. 提高使用可靠性：老煉試驗(yàn)?zāi)軌蛱嵘骷氖褂每煽啃?，但無法改變其固有的可靠性特性。

4. 應(yīng)力選擇：試驗(yàn)條件的選擇需依據(jù)元器件的可靠性要求及其失效機(jī)理的特性，以確保試驗(yàn)效果。

5. 加速應(yīng)力：為了縮短試驗(yàn)時(shí)間，老煉試驗(yàn)所施加的應(yīng)力通常高于元器件正常使用中的應(yīng)力水平。

老煉試驗(yàn)的階段

老煉試驗(yàn)通常分為三個(gè)階段：老煉前測試、老煉試驗(yàn)、老煉后測試。

- 老煉前測試：在進(jìn)行老煉試驗(yàn)前，先進(jìn)行基本的電參數(shù)和功能測試，以剔除含有顯著質(zhì)量缺陷的元器件，避免浪費(fèi)老煉設(shè)備和資源。

- 老煉試驗(yàn)：在這一階段，元器件被放置在老煉板上并放入老煉箱中，施加熱應(yīng)力和電應(yīng)力以激發(fā)早期失效。

- 老煉后測試：老煉完成后，需要對元器件進(jìn)行全面的電參數(shù)測試，包括穩(wěn)態(tài)時(shí)的直流參數(shù)測試、不同頻率下的交流參數(shù)測試以及功能性測試。測試環(huán)境涵蓋常溫、低溫和高溫。

老煉試驗(yàn)方法

老煉試驗(yàn)主要分為靜態(tài)老煉、動態(tài)老煉和老煉中測試三種方法。

- 靜態(tài)老煉：靜態(tài)老煉僅對電路電源端提供電壓，而信號輸入引腳則不提供老煉向量。這種方法主要用于誘發(fā)與雜質(zhì)污染有關(guān)的失效機(jī)制，使得電路在高溫下保持穩(wěn)定偏壓，加速內(nèi)部雜質(zhì)的遷移。

- 動態(tài)老煉：動態(tài)老煉不僅提供電源電壓，還為電路輸入引腳加上老煉向量，使電路內(nèi)部的節(jié)點(diǎn)發(fā)生翻轉(zhuǎn)。動態(tài)老煉能夠更加全面地考察器件內(nèi)部的電氣特性，有效激發(fā)潛在缺陷。

- 老煉中測試：這種方法將老煉和電性能測試結(jié)合起來，允許在老煉過程中對電路的電參數(shù)進(jìn)行采樣，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對電路功能的實(shí)時(shí)測試。

老煉試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

老煉試驗(yàn)需遵循以下標(biāo)準(zhǔn)：

- GJB 548B-2005

- GJB 451-90

- GB/T 3187-94

- MIL-STD-883G

- QJ 908A 1998

- MIL-PRF-38510

電子元器件二次篩選服務(wù)

江蘇粵科檢測是一家擁有CNAS和DILAC實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)的第三方元器件二次篩選檢測機(jī)構(gòu)。公司提供多種電子元器件檢測服務(wù)，業(yè)務(wù)涵蓋軍用電子元器件的主要檢測種類。其服務(wù)范圍包括電子元器件質(zhì)量可靠性管理技術(shù)支持、電參數(shù)測試、可靠性篩選試驗(yàn)和破壞性物理分析（DPA）。根據(jù)軍工產(chǎn)品的特點(diǎn)和要求，江蘇粵科檢測能夠?yàn)槠髽I(yè)提供定制化的檢測服務(wù)，覆蓋集成電路、分立器件、電阻電容電感等多種電子元器件。

通過老煉試驗(yàn)，企業(yè)可以顯著提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量，確保出廠的元器件能夠滿足嚴(yán)格的使用要求和環(huán)境條件。

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