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電子元器件篩選工作流程簡介

文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2024-08-05 瀏覽量:

電子元器件篩選工作流程旨在通過系統(tǒng)的測試和檢測手段,及時判別各種失效的發(fā)生,并準確判定元器件的失效模式。這不僅為元器件本身的可靠性設計提供了依據(jù),也為整機系統(tǒng)的可靠性提供了保障。本文將基于目前國內(nèi)使用的主要篩選工作流程,對電子元器件的篩選步驟進行詳細介紹。


電子元器件篩選


篩選工作流程

1. 外觀檢查

篩選方法: 用10倍放大鏡檢查外形,引線及材料有無缺陷  

篩選目的: 封裝失效

外觀檢查是最基礎(chǔ)的一步,通過放大鏡觀察元器件的外形和引線,確保沒有明顯的缺陷和損傷。這一步驟能有效篩除一些外觀上存在問題的元器件,從而避免其在后續(xù)使用中出現(xiàn)失效。


2. 溫度循環(huán)

篩選方法: 使元器件交替暴露在規(guī)定的極限高溫和極限低溫下,連續(xù)承受規(guī)定次數(shù)的循環(huán)  

篩選目的: 封裝失效

溫度循環(huán)測試通過將元器件置于高低溫交替環(huán)境中,檢測其在溫度劇變下的可靠性。這一步驟主要用于暴露元器件在溫度應力下可能出現(xiàn)的封裝失效問題。


3. 高溫壽命(非工作)

篩選方法: 按照國家標準規(guī)定的壽命試驗要求,使元器件在規(guī)定的環(huán)境條件下(通常是最高溫度)存儲規(guī)定的時間  

篩選目的: 封裝失效

高溫壽命測試是在元器件不工作的情況下,將其暴露在高溫環(huán)境中一段時間,以評估其在長期高溫下的耐受性和可靠性。這對于判斷元器件在實際使用中的長期性能尤為重要。


4. 電功率老煉

篩選方法: 按照額定條件達到最高結(jié)溫下的老煉時間,老煉功率按元器件有關(guān)規(guī)定條件進行  

篩選目的: 封裝失效

電功率老煉測試通過施加電功率,使元器件達到其最大結(jié)溫,評估其在高功率工作狀態(tài)下的可靠性。這有助于識別那些在高功率應用中可能會失效的元器件。


元器件老練篩選試驗機構(gòu).jpg


5. 外觀檢查

篩選方法: 用10倍放大鏡檢查外形,引線及材料有無缺陷  

篩選目的: 封裝失效

再次進行外觀檢查,以確保在前幾個步驟中沒有因測試過程導致新的外觀缺陷。


6. 密封性檢查

篩選方法: 有空隙的元器件,先細檢漏,然后粗檢漏  

篩選目的: 密封失效

密封性檢查主要針對那些封裝有空隙的元器件,通過細檢漏和粗檢漏的方法,確保其封裝的密封性能完好。這一步驟可以識別出封裝不良導致的失效。


7. 振動

篩選方法: 切斷脆斷結(jié)構(gòu)不耐機械振動下的元器件  

篩選目的: 結(jié)構(gòu)失效

振動測試通過施加機械振動,檢測元器件在機械應力下的可靠性,特別是識別那些在機械振動環(huán)境中容易斷裂或失效的元器件。


8. 外觀檢查

篩選方法: 用10倍放大鏡檢查外形,引線及材料有無缺陷  

篩選目的: 封裝失效

再次進行外觀檢查,確保在振動測試后,元器件外觀和引線沒有出現(xiàn)新的缺陷。


9. 電參數(shù)測試

篩選方法: 包括結(jié)電平電流,結(jié)電壓或電流漏電流等電參數(shù)測試  

篩選目的: 按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范進行

電參數(shù)測試通過測量元器件的電學參數(shù),如結(jié)電平電流、結(jié)電壓或電流漏電流等,評估其是否符合產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范要求。這一步驟確保元器件的電性能符合設計要求。


10. 功能測試

篩選方法: 按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范合同規(guī)定進行  

篩選目的: 功能失效

功能測試通過實際應用測試,評估元器件在實際使用中的功能表現(xiàn),確保其在規(guī)定的工作條件下能夠正常工作。


11. 外觀檢查

篩選方法: 用10倍放大鏡檢查外形,引線及材料有無缺陷  

篩選目的: 封裝失效

最后進行一次外觀檢查,確保整個測試流程中元器件沒有出現(xiàn)新的外觀缺陷,最終確保出廠元器件的外觀和性能完好。


通過以上篩選工作流程,各種可能導致元器件失效的因素都能得到充分的測試和檢測。這不僅提高了元器件的可靠性,也為整機系統(tǒng)的穩(wěn)定運行提供了堅實的基礎(chǔ)。在實際應用中,優(yōu)化篩選順序能夠及時判別各種失效的發(fā)生,并通過失效時元器件所處的階段準確判定失效模式,為元器件和系統(tǒng)的可靠性設計提供了準確的依據(jù)。


江蘇粵科檢測.jpg


第三方電子元器件二次篩選機構(gòu)

江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu),元器件篩選實驗室面積約2400平米,已具備全套資質(zhì)和專業(yè)團隊36人,配備元器件篩選設備180臺/套,可提供專業(yè)的電子元器件二次篩選、元器件失效分析(FA)及可靠性驗證等服務。


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