人體或帶電物體在向敏感的電子器件放電時(shí)，會(huì)導(dǎo)致器件發(fā)生故障，嚴(yán)重影響汽車(chē)電子產(chǎn)品的正常工作，甚至導(dǎo)致其損壞。因此，進(jìn)行車(chē)載ESD靜電測(cè)試對(duì)于確保汽車(chē)電子產(chǎn)品的可靠性和耐久性至關(guān)重要。本文將介紹AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)下的ESD測(cè)試要求及其重要性。

AEC-Q101 要求的ESD測(cè)試類(lèi)型

根據(jù)AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)，器件需要進(jìn)行兩種主要的ESD測(cè)試：人體放電模式（Human-Body Model, HBM）和元件充電模式（Charged-Device Model, CDM）。

1. 人體放電模式（HBM） AEC Q101-001

   - 模擬場(chǎng)景：此測(cè)試模擬人體在地上走動(dòng)摩擦或其他因素在人體上累積靜電，當(dāng)此人碰觸器件引腳時(shí)，人體上的靜電瞬間產(chǎn)生的電流可能造成器件損毀。

   - 測(cè)試流程：如圖所示的HBM測(cè)試流程圖，每個(gè)樣本組在不同應(yīng)力電壓水平下測(cè)試10個(gè)器件。

2. 元件充電模式（CDM） AEC Q101-005

   - 模擬場(chǎng)景：此測(cè)試模擬器件因摩擦或感應(yīng)等因素在內(nèi)部累積靜電，當(dāng)其引腳碰觸到接地導(dǎo)體時(shí)，內(nèi)部的靜電經(jīng)由接腳流出而造成放電現(xiàn)象。

   - 測(cè)試流程：如圖所示的CDM測(cè)試流程圖，每個(gè)樣本組在不同應(yīng)力電壓水平下測(cè)試10個(gè)器件。

試驗(yàn)條件

HBM和CDM模式要求分別測(cè)試30個(gè)器件。將樣本量分為三個(gè)樣品組，并在應(yīng)力電壓水平下對(duì)每個(gè)樣本組施加應(yīng)力，每個(gè)應(yīng)力電壓水平測(cè)試十個(gè)器件。

失效標(biāo)準(zhǔn)

ESD測(cè)試后，若器件不符合以下任何標(biāo)準(zhǔn)，則該器件將被定義為失效：

1. 最大允許偏移值：對(duì)于不同器件類(lèi)型，關(guān)鍵參數(shù)的最大允許偏移值如下：

   - 雙極：ICES, ICBO 和 IEBO 的初始測(cè)量的10倍（10X）。

   - FET：IDSS 和 IGSS 的初始測(cè)量的10倍（10X）。

   - IGBT：ICES 和 IGES 的初始測(cè)量的10倍（10X）。

   - 二極管：IR 的初始測(cè)量的10倍（10X）。

2. 電氣驗(yàn)證參數(shù)：器件初始和最終電氣驗(yàn)證參數(shù)不再符合用戶(hù)器件規(guī)范的要求。

通過(guò)嚴(yán)格的ESD測(cè)試，AEC-Q101認(rèn)證確保了汽車(chē)電子元件在實(shí)際使用環(huán)境中的可靠性和耐久性。江蘇粵科檢測(cè)作為專(zhuān)業(yè)的第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)，提供全面的AEC-Q101 ESD測(cè)試服務(wù)，幫助客戶(hù)確保其產(chǎn)品在各種極端條件下的高性能表現(xiàn)。

• 上一篇 :

  載貨汽車(chē)GB/T1332定型試驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)

  2024-07-08
• 下一篇 :

  AEC-Q102認(rèn)證功率溫度循環(huán)(PTC)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)要求

  2024-07-09

在線留言

如果您對(duì)我司的產(chǎn)品或服務(wù)有任何意見(jiàn)或者建議，您可以通過(guò)這個(gè)渠道給予我們反饋。您的留言我們會(huì)盡快回復(fù)！

姓名：

電話(huà)：

公司：

內(nèi)容：

驗(yàn)證碼：

刷新