文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間：2024-05-14 瀏覽量:
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測試資質(zhì)和測試能力，可協(xié)助汽車分立半導(dǎo)體企業(yè)制定符合AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)證步驟和實(shí)驗(yàn)方法，幫助汽車分立器件廠商進(jìn)入車廠供應(yīng)鏈，縮短與采購商的溝通時(shí)間，推動產(chǎn)品品質(zhì)的提高和可交換性。
二極管、齊納二極管、穩(wěn)壓二極管、整流二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等。
| 種類 | 序號 | 應(yīng)力方式 | 樣品數(shù)量 Sample Size/Lot | 批數(shù) Number of Lots |
| 1. 加速環(huán)境應(yīng)力測試 ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS | 1 | 預(yù)處理 Preconditioning | 貼片器件在進(jìn)行 2~10 項(xiàng),及耐焊性測 試前要實(shí)施預(yù)處理 | |
| 2 | 高加速度應(yīng)力測試 Highly Accelerated Stress Test | 77 | 3（注 B） | |
| 3 | 高溫高濕反向偏壓 High Humidity High Temp. Reverse Bias | 77 | 3（注 B） | |
| 4 | 無高加速度應(yīng)力測試 Unbiased HAST | 77 | 3（注 B） | |
| 5 | 壓力鍋 Autoclave | 77 | 3（注 B） | |
| 6 | 溫度循環(huán) Temperature Cycling | 77 | 3（注 B） | |
| 7 | 溫度循環(huán)熱試驗(yàn) Temperature Cycling Hot Test | 77 | 3（注 B） | |
| 8 | 溫度循環(huán)分層試驗(yàn) TC Delamination Test | 77 | 3（注 B） | |
| 9 | 間歇工作壽命 Intermittent Operational Life | 77 | 3（注 B） | |
| 10 | 功率溫度循環(huán) Power Temperature Cycling | 77 | 3（注 B） | |
| 2. 加速壽命周期模擬測試– ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS | 1 | 高溫反向偏壓 High Temperature Reverse Bias | 77 | 3（注 B） |
| 2 | 交流阻斷電壓 AC blocking voltage | 77 | 3（注 B） | |
| 3 | 穩(wěn)態(tài)工作 Steady State Operational | 77 | 3（注 B） | |
| 4 | 高溫柵偏壓 High Temperature Gate Bias | 77 | 3（注 B） | |
| 3.封裝組裝完整性測試 PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS | 1 | 破壞性物理分析 Destructive Physical Analysis | 2 | 1（注 B） |
| 2 | 尺寸 Physical Dimension | 30 | 1 | |
| 3 | 焊線拉力 Wire Bond Pull Strength | 最少 5 個(gè)器件的 10 條焊線 | ||
| 4 | 焊線剪切 Wire Bond Shear Strength | |||
| 5 | 晶片剪切 Die Shear | 5 | 1 | |
| 6 | 端子強(qiáng)度 Terminal Strength | 30 | 1 | |
| 7 | 耐溶劑性 Resistance to Solvents | 30 | 1 | |
| 8 | 耐焊性 Resistance to Solder Heat | 30 | 1 | |
| 9 | 熱阻抗 Thermal Resistance | 10 | 1 | |
| 10 | 可焊性 Solderability | 10 | 1（注 B） | |
| 11 | 晶須生長評價(jià) Whisker Growth Evaluation | - | - | |
| 12 | 恒定加速度 Constant Acceleration | 30 | 1（注 B） | |
| 13 | 變頻振動 Vibration Variable Frequency | 項(xiàng)目 12~15 是密封封裝器件連續(xù)的測 試(參考注釋 H) | ||
| 14 | 機(jī)構(gòu)沖擊 Mechanical Shock | |||
| 15 | 氣密性 Hermeticity | |||
| 4.晶片制造可靠性測試 DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS | 1 | 介電性 Dielectric Integrity | 5 | 1 |
| 5. 電性驗(yàn)證測試 – ELECTRICAL VERIFICATION TESTS | 1 | 外觀 External Visual | all | all |
| 2 | 應(yīng)力測試前后功能參數(shù) Pre- and PostStress Electrical Test | all | all | |
| 3 | 參數(shù)驗(yàn)證 Parametric Verification | 25 | 3（注 A） | |
| 4 | 靜電放電人體模式 ESD HBM Characterization | 30 | 1 | |
| 5 | 靜電放電帶電器件模式 ESD CDM Characterization | 30 | 1 | |
| 6 | 鉗位感應(yīng)開關(guān) Unclamped Inductive Switching | 5 | 1 | |
| 7 | 短路特性 Short Circuit Characterization | 10 | 3（注 B） | |
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