鉭電容AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目及要求

鉭電容AEC-Q200認(rèn)證依據(jù)AEC-Q200 - Rev E標(biāo)準(zhǔn)Table 2進(jìn)行測(cè)試。江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)第三方AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供電容、電阻、電感、變壓器、晶振、保險(xiǎn)絲等被動(dòng)電子元件AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。我們有眾多被動(dòng)元件測(cè)試專家和豐富的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，致力于幫助您的產(chǎn)品滿足AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)要求。

鉭電容AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目及方法

1. Pre- and Post-Stress Electrical Test 應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試：User Specification 用戶規(guī)范；

2. Temperature Cycling 溫度循環(huán)：JESD22-A104；

3. Destructive Physical Analysis 破壞性物理分析：EIA-469；

4. Humidity Bias 高溫高濕：MIL-STD-202 Method 103；

5. High Temperature Operating Life 高溫工作壽命：MIL-STD-202 Method 108；

6. External Visual 外觀檢查：MIL-STD-883 Method 2009；

7. Physical Dimension 尺寸檢查：JESD22-B100；

8. Terminal Strength（THT） 端子強(qiáng)度：MIL-STD-202 Method 211；

9. Resistance to Solvents 耐溶劑測(cè)試：MIL-STD-202 Method 215；

10. Mechanical Shock 機(jī)械沖擊：MIL-STD-202 Method 213；

11. Vibration 振動(dòng)：MIL-STD-202 Method 204；

12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱：MIL-STD-202 Method 210；

13. ESD靜電測(cè)試：AEC-Q200-002；

14. Solderability 可焊性：J-STD-002；

15. Electrical Characterization 電氣特性：User Specification；

16. Board Flex 板彎曲：AEC-Q200-005；

17. Terminal Strength (SMD) 引出端強(qiáng)度（貼片）：AEC-Q200-006。

AEC-Q200認(rèn)證的必要性

被動(dòng)電子元件廠家要進(jìn)入汽車領(lǐng)域，打入各一級(jí)(Tier1)汽車電子大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門票，第一張是由北美汽車產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q200(被動(dòng)電子元件)可靠性標(biāo)準(zhǔn)；第二張門票，則要符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。

對(duì)汽車廠和一級(jí)供應(yīng)商來說，使用通過AEC-Q200認(rèn)證的電子元器件風(fēng)險(xiǎn)小，通常會(huì)要求元器件通過AEC-Q200認(rèn)證；對(duì)電子元器件供應(yīng)商來說，通過AEC-Q200認(rèn)證，是產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的保證，能夠提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力及溢價(jià)率。

因此，AEC-Q200雖然不是強(qiáng)制性的認(rèn)證制度，但目前已成為公認(rèn)的車規(guī)被動(dòng)電子元件的通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q200認(rèn)證，已成為被動(dòng)電子元件是否適合于汽車應(yīng)用的一個(gè)標(biāo)志，或者說門檻。

AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試要求

1. 每個(gè)環(huán)境應(yīng)力測(cè)試項(xiàng)目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，特別要求除外。

2. 1000小時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試會(huì)額外增加250，500，1000小時(shí)幾個(gè)階段。

3. 一般電參數(shù)測(cè)試會(huì)是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進(jìn)行，應(yīng)力測(cè)試完成后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。

4. 電參數(shù)測(cè)試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進(jìn)行測(cè)試。

5. AEC-Q200測(cè)試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書進(jìn)行判定，所有測(cè)試只接受零失敗。

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