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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時(shí)間:2023-07-18 瀏覽量:
AEC-Q102是車用光電器件基于失效機(jī)制的應(yīng)力測試規(guī)范,由AEC委員會制定,適用于車用光電器件的綜合可靠性測試認(rèn)證,是LED光電器件應(yīng)用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。
AEC-Q102目前最新版本是2020年的A版,在原有測試項(xiàng)目的基礎(chǔ)上稍微有些調(diào)整,如WHTOL1、WHTOL2,不再要求Tsolder焊點(diǎn)溫度的管控(實(shí)踐中比較困難),而是以Tambient溫度為試驗(yàn)基準(zhǔn);增加了Board Flex板彎曲測試,補(bǔ)充了SMD器件結(jié)構(gòu)強(qiáng)度的試驗(yàn)要求,該要求對于光電器件企業(yè)來說可能稍微陌生。
在AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中,基本原則是根據(jù)器件類型、封裝形貌等特征,執(zhí)行并通過必要的測試項(xiàng)目,可參考如下:
AEC-Q102認(rèn)證需要進(jìn)行5組測試,以下是按組分類需要測試項(xiàng)目的清單。
序號 | 測試項(xiàng)目 | 縮寫 | 檢測方法 |
A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn) | |||
A1 | 預(yù)處理 | PC | JEDEC JESD22-A113 |
A2a | 高溫濕工作壽命1 | WHTOL1 | JEDEC JESD22-A101 |
A2b | 高溫濕工作壽命2 | WHTOL2 | JEDEC JESD22-A101 |
A2c | 高濕度高溫反向偏壓 | H3TRB | JEDEC JESD22-A101 |
A3a | 功率溫度循環(huán) | PTC | JEDEC JESD22-A105 |
A3b | 間歇使用壽命 | IOL | MIL-STD-750-1 Method 1037 |
A4 | 溫度循環(huán) | TC | JEDEC JESD22-A104 |
B 組 加速壽命應(yīng)力試驗(yàn) | |||
B1a | 高溫濕工作壽命1 | HTOL1 | JEDEC JESD22-A108 |
B1b | 高溫濕工作壽命2 | HTOL2 | JEDEC JESD22-A108 |
B1c | 高溫反向偏壓 | HTRB | JEDEC JESD22-A108 |
B2 | 低溫使用壽命 | LTOL | JEDEC JESD22-A108 |
B3 | 脈沖壽命 | PLT | JEDEC JESD22-A108 |
C 組 封裝組合完整性測試 | |||
C1 | 破壞性物理分析 | DPA | Appendix 6 |
C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
C3 | 綁線強(qiáng)度 | WBP | MIL-STD-750-2Method 2037 |
C4 | 綁線剪切 | WBS | JESD22-B116 |
C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2Method 2017 |
C6 | 端子強(qiáng)度 | TS | MIL-STD-750-2Method 2036 |
C7 | 凝露 | DEW | AEC-Q102-001 |
C8 | 耐焊接熱 | RSG(-wave) | Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005 |
C9 | 熱阻 | TR | JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole) |
C11 | 晶須生長 | WG | AEC-Q005 |
C12 | 硫化氫 | H2S | IEC 60068-2-43 |
C13 | 混合氣流測試 | FMG | IEC 60068-2-60 Test method 4 |
C14 | 板彎曲 | BF | AEC-Q102-002 |
E 組 光電驗(yàn)證試驗(yàn) | |||
E0 | 目檢 | EV | JEDEC JESD22-B101 |
E1 | 應(yīng)力前后電氣和光度試驗(yàn) | TEST | Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification |
E2 | 參數(shù)驗(yàn)證 | PV | individual AEC user specification |
E3 | 靜電放電特性 HBM | HBM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
E4 | 靜電放電特性 CDM | CDM | AEC-Q101-005 |
G 組 空腔封裝完整性測試 | |||
G1 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2Method 2006 |
G2 | 變頻振動 | VVF | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
G3 | 機(jī)械沖擊 | MS | JEDEC JESD22-B110 |
G4 | 密封性 | HER | JEDEC JESD22-A109 |
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q102認(rèn)證機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)測試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力,可提供車用LED分立光電半導(dǎo)體元器件AEC-Q102認(rèn)證檢測服務(wù),同時(shí)提供LED、光電二極管、晶體管、激光元件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù),更有一流的LED材料表征與分析技術(shù)和LED失效分析技術(shù),提供一站式LED行業(yè)解決方案,為LED行業(yè)的乘風(fēng)破浪保駕護(hù)航。
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