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什么是AEC-Q102認(rèn)證?有哪些測試項目

文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2023-05-18 瀏覽量:

汽車作為人們主要的出行方式之一,它的安全性和可靠性決定了汽車能否長久正常的運行,能否有效地保護(hù)駕駛者和乘客的生命安全,為人們的生產(chǎn)和生活提供便利。

所以汽車企業(yè)在采購器件的時候,通常會要求供應(yīng)商使用車規(guī)級元器件,來保證整車都有足夠的可靠性和安全性。


車規(guī)級激光雷達(dá)AEC-Q認(rèn)證.jpg


而為消除制造商和采購商之間的誤解,促進(jìn)產(chǎn)品的可交換性和改機(jī),協(xié)助采購商盡快宣傳和獲得適當(dāng)?shù)漠a(chǎn)品。

汽車電子委員會(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)建立了一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn),也就是AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)。

在AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)中,分為多個標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同的部件的可靠性和安全性要求,比如AEC-Q100規(guī)定了集成電路部分,AEC-Q101則是分立半導(dǎo)體元器件,AEC-Q103是汽車傳感器,AEC-Q104是多芯片模塊,AEC-Q200無源器件等。


分立光電半導(dǎo)體AEC-Q102認(rèn)證.jpg


而AEC-Q102則是針對汽車電子所有內(nèi)外使用的分立光電半導(dǎo)體元器件的測試標(biāo)準(zhǔn),同時也是目前最新針對車用LED通用的國際標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)中的試驗每項都是針車用LED所可能遭遇的環(huán)境來設(shè)計,以保護(hù)行車時的安全性,對光電器件的可靠性提出了嚴(yán)格的測試要求,大大提升了光電器件的使用性能。


下面就是關(guān)于AEC-Q102認(rèn)證的一些測試項目:

序號測試項目縮寫檢測方法
A  加速環(huán)境應(yīng)力試驗
A1預(yù)處理PCJEDEC JESD22-A113
A2a高溫濕工作壽命1WHTOL1JEDEC JESD22-A101
A2b高溫濕工作壽命2WHTOL2JEDEC JESD22-A101
A2c高濕度高溫反向偏壓H3TRBJEDEC JESD22-A101
A3a功率溫度循環(huán)PTCJEDEC JESD22-A105
A3b間歇使用壽命IOLMIL-STD-750-1 Method 1037
A4溫度循環(huán)TCJEDEC JESD22-A104
B 組 加速壽命應(yīng)力試驗
B1a高溫濕工作壽命1HTOL1JEDEC JESD22-A108
B1b高溫濕工作壽命2HTOL2JEDEC JESD22-A108
B1c高溫反向偏壓HTRBJEDEC JESD22-A108
B2低溫使用壽命LTOLJEDEC JESD22-A108
B3脈沖壽命PLTJEDEC JESD22-A108
C 組 封裝組合完整性測試
C1破壞性物理分析DPAAppendix 6
C2物理尺寸PDJEDEC JESD22-B100
C3綁線強(qiáng)度WBPMIL-STD-750-2Method 2037
C4綁線剪切WBSJESD22-B116
C5芯片剪切DSMIL-STD-750-2Method 2017
C6端子強(qiáng)度TSMIL-STD-750-2Method 2036
C7凝露DEWAEC-Q102-001
C8耐焊接熱RSG(-wave)Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005
C9熱阻TRJEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52
C10可焊性SDJEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole)
C11晶須生長WGAEC-Q005
C12硫化氫H2SIEC 60068-2-43
C13混合氣流測試FMGIEC 60068-2-60 Test method 4
C14板彎曲BFAEC-Q102-002
E 組 光電驗證試驗
E0目檢EVJEDEC JESD22-B101
E1應(yīng)力前后電氣和光度試驗TESTSection 2.3.7& User specification or supplier's standard specification
E2參數(shù)驗證PVindividual AEC user specification
E3靜電放電特性 HBMHBMANSI/ESDA/JEDEC JS-001
E4靜電放電特性 CDMCDMAEC-Q101-005
G 組 空腔封裝完整性測試
G1恒定加速度CAMIL-STD-750-2Method 2006
G2變頻振動VVFJEDEC JESD22-B103 Condition 1
G3機(jī)械沖擊MSJEDEC JESD22-B110
G4密封性HERJEDEC JESD22-A109


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